技術(shù)文章
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掃描電子顯微鏡(SEM)憑借高分辨率、大景深的成像優(yōu)勢,被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域。成像質(zhì)量直接決定了微觀結(jié)構(gòu)分析的準(zhǔn)確性,以下從設(shè)備參數(shù)設(shè)置、樣品處理、環(huán)境控制三個(gè)核心維度,分享SEM成像質(zhì)量的優(yōu)化方法。一、設(shè)備參數(shù)的精準(zhǔn)調(diào)節(jié)加速電壓的選擇加速電壓決定電子束的穿透能力與成像分辨率,需根據(jù)樣品特性匹配:對于導(dǎo)電性好、厚度較大的樣品(如金屬、合金),可選用較高加速電壓(10–30kV),提升成像清晰度與細(xì)節(jié)辨識(shí)度;對于導(dǎo)電性差、易損傷的樣品(如生物樣品、高分...
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微機(jī)控制電子式萬能試驗(yàn)機(jī)是用于材料力學(xué)性能測試的設(shè)備,可進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲等多種試驗(yàn)。其校準(zhǔn)與檢測技巧旨在保證力值、位移及變形測量準(zhǔn)確,使試驗(yàn)結(jié)果具備可靠性與可比性。校準(zhǔn)與檢測需按規(guī)范流程進(jìn)行,覆蓋設(shè)備硬件、測量系統(tǒng)及控制性能。一、校準(zhǔn)應(yīng)在設(shè)備穩(wěn)定環(huán)境下進(jìn)行,環(huán)境溫度、濕度應(yīng)保持在設(shè)備規(guī)定范圍,避免振動(dòng)與強(qiáng)電磁干擾。先檢查機(jī)械結(jié)構(gòu)狀態(tài),包括機(jī)架、夾具、傳動(dòng)機(jī)構(gòu)及限位裝置,確認(rèn)無松動(dòng)、變形或卡滯。夾具表面應(yīng)平整且與試樣接觸均勻,防止夾持力不均引入附加應(yīng)力。驅(qū)動(dòng)與傳動(dòng)部件運(yùn)行應(yīng)...
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蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)的校準(zhǔn)需遵循國際標(biāo)準(zhǔn)與設(shè)備專屬操作流程,核心圍繞測針校準(zhǔn)、幾何精度校準(zhǔn)展開,同時(shí)把控環(huán)境條件、校準(zhǔn)周期等關(guān)鍵要素,以下是詳細(xì)規(guī)范內(nèi)容:校準(zhǔn)前準(zhǔn)備規(guī)范環(huán)境條件校準(zhǔn):需將環(huán)境溫度穩(wěn)定在20±0.5℃,相對濕度控制在45%-65%,避免溫度波動(dòng)和濕度異常影響校準(zhǔn)精度。同時(shí)設(shè)備需在該環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行24小時(shí)以上,確保達(dá)到熱平衡狀態(tài)。此外要遠(yuǎn)離振動(dòng)源、強(qiáng)電磁干擾設(shè)備,防止外部因素干擾校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。器具與設(shè)備檢查:配備經(jīng)國家計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定合格的標(biāo)準(zhǔn)球、量塊等器具,且...
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二次元影像測量機(jī)是以光學(xué)成像與數(shù)字圖像處理為基礎(chǔ),對平面工件的幾何尺寸、形位公差及輪廓特征進(jìn)行測量的設(shè)備。要實(shí)現(xiàn)快速精準(zhǔn)測量,需在測量準(zhǔn)備、操作執(zhí)行及數(shù)據(jù)處理各環(huán)節(jié)遵循規(guī)范,減少誤差并提升效率。1、測量準(zhǔn)備是確保精準(zhǔn)的前提。需先確認(rèn)被測工件的材質(zhì)與表面狀態(tài)適合光學(xué)成像,表面過于反光、透明或出現(xiàn)嚴(yán)重紋理干擾時(shí),應(yīng)通過噴涂啞光涂層、調(diào)整光源角度或更換濾光片改善成像質(zhì)量。工件應(yīng)穩(wěn)固裝夾于測量臺(tái),避免外力或振動(dòng)引起位移,裝夾方式需保證測量面與影像系統(tǒng)光軸垂直,減少透視誤差。根據(jù)測量任...
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一、直讀光譜儀選型核心原則圍繞“檢測需求匹配、精度達(dá)標(biāo)、穩(wěn)定耐用”選型,兼顧使用場景適配性與后期運(yùn)維成本,確保儀器能高效完成元素分析任務(wù)。二、關(guān)鍵選型要點(diǎn)明確檢測元素與范圍:根據(jù)需求確認(rèn)需檢測的元素種類(如金屬、非金屬)及含量范圍,選擇對應(yīng)檢測能力的型號(hào)。確認(rèn)精度與分辨率:按行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求,選擇檢測誤差小、分辨率高的儀器,高要求場景需關(guān)注長期穩(wěn)定性。匹配樣品類型:金屬樣品優(yōu)先選火花直讀光譜儀,液體/粉末樣品可考慮ICP直讀光譜儀,明確樣品形態(tài)再選型。考量使用場景:實(shí)驗(yàn)室固定檢測...
查看更多三坐標(biāo)及自動(dòng)化檢測線 粗糙度輪廓儀、測高儀 直讀光譜儀 金相顯微鏡 光學(xué)軸類測量儀 測長機(jī)、投影儀、影像儀 原子力顯微鏡 圓度儀、圓柱度儀 掃描電子顯微鏡 工具顯微鏡 測厚儀系列 硬度計(jì)系列 試驗(yàn)機(jī)系列
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