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移動(dòng)樣品時(shí)，也可以實(shí)時(shí)呈現(xiàn)元素面分布圖像 高靈敏度 高空間分辨率 降低樣品損傷 減少樣品污染 Ultim Max系列擁有大面積SDD和能夠探測(cè)到Li元素的Extreme集成電路。

JSM-IT200掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電訊號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來(lái)測(cè)定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測(cè)樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，

JCM7000掃描透射電子顯微鏡 ，是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來(lái)測(cè)定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測(cè)樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業(yè)：地質(zhì)、冶金、材料、農(nóng)業(yè)、石油、化工、制藥、食

JSM-IT500掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電訊號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來(lái)測(cè)定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測(cè)樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、醫(yī)療器械，保健品等多種樣品。

JCM7000進(jìn)口掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來(lái)測(cè)定樣品微觀形貌結(jié)構(gòu)，可測(cè)樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業(yè)：地質(zhì)、冶金、材料、農(nóng)業(yè)、石油、化工、制藥等。

基于元素分布的成像模式 Unity BEX探測(cè)器:掃描電鏡中革命性的全新成像技術(shù) Unity系統(tǒng)是BEX BackscatteredElectron X-Ray)成像探測(cè)器，它將背散射散射電子成像和X射線成像集于一體。當(dāng)您檢索樣品時(shí)，BEX信號(hào)可流暢地提供包含有元素信息的彩色圖像。這種新的分析技術(shù)有效提高您科學(xué)研究、品控質(zhì)檢的效率，相比傳統(tǒng)成像技術(shù)，BEX提供了樣品中更為可靠及完整的信息。